Modelo funcional para medir la conductividad en películas delgadas semiconductoras empleadas en la fabricación de celdas solares

Abstract

Se diseñó un prototipo y se implementó el modelo funcional que permite medir la conductividad en películas delgadas semiconductoras, empleadas en la fabricación de celdas solares. El método elegido para la toma de medidas es el procedimiento de Van Der Pauw, ya que permite determinar la conductividad de una muestra, sin importar su forma cuadrada, rectangular o circular, siempre que sea homogénea, sin agujeros; el área de la sección transversal de cada electrodo debe ser bastante pequeña, en relación con el área total de la muestra (el cociente entre el área de la muestra y la sección trasversal de cada electrodo, debe ser mayor o igual a 90) y preferiblemente que los contactos sean ubicados en los extremos de esta. Para la toma de medidas, se empleó un Nanovoltímetro 2182A Keithley, un Picoamperímetro 6485 Keithley, una fuente de tensión Tektronix PS280 y Multímetro mastech my-64. El modelo cuenta con cuatro electrodos de plata, los cuales son intercambiables por cualquier otro material conductor, ya sea cobre u oro; también cuenta con una base que sirve para dar soporte a las muestras, un apoyo en el que se encuentran unidos los cuatro rieles móviles del prototipo; estos últimos, son de acero inoxidable, garantizando mayor vida útil al equipo y gracias a la longitud de estos, el modelo puede adaptarse a las características de las muestras, adicionando la posibilidad de medir muestras de gran tamaño y de menor área. La desventaja con la que cuenta el montaje es su temperatura de operación, ya que la máxima temperatura que puede alcanzar sin afectarse es de 70°C.