Attribution-NonCommercial 4.0 International (CC BY-NC 4.0)Henao Martinez, Jose AntonioPinilla Arismendy, Jesus Andelfo2024-03-0320052024-03-0320052005https://noesis.uis.edu.co/handle/20.500.14071/17404La Técnica de Difracción de Rayos-X (DRX) de muestras policristalinas en el ámbito internacional sigue siendo una invariable herramienta analítica para la industria moderna. Mediante esta técnica, no solo es posible obtener información cualitativa y cuantitativa de las fases cristalinas presentes en una muestra, sino también de poder determinar el contenido de material amorfo si llegase a estar presente. Actualmente existen dos métodos cuantitativos ampliamente usados para llevar a cabo este tipo de análisis, que son: el Método de Relación de Intensidad de Referencia (RIR) y el Método de Rietveld. En la presente investigación se llevo a cabo la cuantificación por DRX de una serie de mezclas de minerales no arcillosos y arcillosos de concentraciones conocidas, a las cuales se les agrego una cantidad de material amorfo. Las mezclas fueron analizadas por los dos métodos de análisis cuantitativos anteriormente mencionados de manera independiente. Al final se evalúo la precisión y exactitud de los resultados, así como el límite de detección para las fases no arcillosas. Los resultados mostraron que los errores absolutos para los dos métodos RIR y Rietveld dentro de un nivel de confianza del 95% están en el orden de ±4.0% en peso. Igualmente el límite de detección de las fases no arcillosas para los dos métodos están en el rango entre 0.5 y 1.25% en peso.application/pdfspahttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0/Difracción de rayos-XAnálisis CuantitativoMétodos RIR yUniversidad Industrial de SantanderTesis/Trabajo de grado - Monografía - MaestriaUniversidad Industrial de Santanderhttps://noesis.uis.edu.coX-ray DiffractionQuantitative AnalysisMethods RIR and Rietveld.info:eu-repo/semantics/openAccessAtribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Internacional (CC BY-NC-ND 4.0)