Attribution-NonCommercial 4.0 International (CC BY-NC 4.0)Henao Martinez, Jose AntonioMacias López, Mario Alberto2024-03-0320092024-03-0320092009https://noesis.uis.edu.co/handle/20.500.14071/23165Un perfil de difracción está compuesto por una serie de fenómenos que contribuyen en formas particulares a su construcción. Entre estos, es posible diferenciar aquellos que afectan las posiciones de los picos (parámetros de red, grupo espacial), la intensidad (coordenadas fraccionales de los átomos, ocupación, textura, parámetros térmicos), y la forma y ancho (ensanchamiento por microestructura e instrumento). Este último efecto representa lo que se conoce como análisis del perfil de línea, el cual involucra la deconvolución de ambos fenómenos en busca de obtener información acerca de los tamaños y microtensiones cristalinas. Realizar una caracterización estructural y microestructural por el método de refinamiento de estructuras de Rietveld, involucra conocer todas las contribuciones al perfil, entre ellas, la Función de resolución Instrumental que describe el ensanchamiento ocasionado por la geometría óptica del equipo usado. Las principales aberraciones encontradas en cálculos de la función instrumental están asociadas con el amplio rango de parámetros instrumentales que pueden ser variados en la configuración de un difractómetro: radio del goniómetro, tamaño de la fuente de rayos-x, slit de recepción, uso de sollers slits de haz incidente y/o difractado y uso de Monocromador, entre otros. Por estas razones, efectuar un análisis de un material usando difracción de rayos-x de muestras policristalinas, es un procedimiento complejo que involucra conocimientos profundos, tanto a nivel teórico como experimental, de todos los factores contenidos en un perfil de polvo, de manera que sea posible extraer la gran cantidad de información importante para el amplio rango de campos, a nivel tecnológico y de investigación, que utilizan esta técnica como parte fundamental en sus procesos.application/pdfspahttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0/Difracción de rayos xFunción de Resolución InstrumentalAnálisis del perfil de línea.Universidad Industrial de SantanderTesis/Trabajo de grado - Monografía - MaestriaUniversidad Industrial de Santanderhttps://noesis.uis.edu.coX-Ray DiffractionInstrumental Resolution FunctionLine-Profile Analysis.info:eu-repo/semantics/openAccessAtribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Internacional (CC BY-NC-ND 4.0)