Determinación de aluminio, silicio, y cationes extrared en aluminosilicatos mediante espectroscopía atómica de plasma por acoplamiento inductivo (ICP-OES)

Abstract

En este trabajo se implementó y evaluó la técnica de Espectrometría de Emisión Óptica con Plasma Acoplado Inductivamente (ICP-OES) para la determinación de aluminio, silicio, cadmio, litio y sodio en materiales basados en aluminosilicatos. Se llevó a cabo una comparación exhaustiva con otros métodos analíticos, como la absorción atómica y la micro fluorescencia de rayos X, con el objetivo de establecer la eficacia y precisión de ICP-OES en este tipo de análisis. Los resultados obtenidos indicaron que ICP-OES presenta un amplio rango lineal para todos los analitos, destacándose con valores como 0.1 mg/L a 150 mg/L para aluminio y silicio, y de 0.05 mg/L a 30 mg/L para cadmio. Además, los límites de cuantificación fueron excepcionalmente bajos, con 0.075 mg/L para aluminio y 0.055 mg/L para silicio. Los estudios de veracidad mostraron porcentajes de recuperación superiores al 95%, mientras que los estudios de precisión arrojaron coeficientes de variación inferiores al 5%, cumpliendo con los criterios internacionales establecidos. En cuanto a la caracterización de las muestras de zeolitas, la técnica ICP-OES demostró una superioridad significativa en la determinación de la relación Si/Al, proporcionando resultados más cercanos a los valores especificados por el fabricante en comparación con las demás técnicas. Además, los datos obtenidos por ICP-OES mostraron una menor desviación que los obtenidos mediante absorción atómica, lo que subraya su mayor precisión y fiabilidad en este contexto. En resumen, ICP-OES se presenta como una herramienta altamente eficaz para la caracterización elemental de aluminosilicatos, destacándose por su sensibilidad, precisión, y capacidad para generar resultados consistentes y confiables en el análisis de estos materiales.