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Medida de microdesplazamientos mediante correlacion conjunta de patrones speckle

Resumen

En este trabajo se presenta un procedimiento alternativo para la medida de desplazamientos en el rango de las decenas de micrones (aproximadamente 20 a 450 [ µm]) basado en la correlación entre dos patrones speckle mediante un correlador de transformada conjunta bipolar digital. El método consiste en obtener dos patrones de speckle objetivo; uno antes y otro después del desplazamiento de una superficie difusora, que se colocan en el plano de entrada del correlador. La transformación no lineal del espectro de potencia conjunto permite un pico de correlación más agudo y una alta relación señal-ruido. Las coordenadas del pico de autocorrelación del primer patrón se fijan como referencia para la medida del desplazamiento de los picos de correlación cruzada. El rango de medida se obtiene comparando la energía en el origen de la autocorrelación con la energía del pico de correlación cruzada. Inicialmente el proceso de calibración es mostrado para las direcciones horizontal y vertical. Se presentan resultados experimentales para diferentes distancias muestra-sensor y longitudes de onda del haz utilizado. También se muestra la implementación de la técnica en tiempo cuasi real.