Caracterización de sistemas de desplazamientos nanométricos con microscopia interferometría

Abstract

Actualmente, los métodos ópticos para la caracterización de sistemas de desplazamientos nanométricos han adquirido gran interés en la concepción de herramientas y dispositivos de exploración y análisis en ambientes industriales y biomédicos. Este trabajo fue orientado a la caracterización de sistemas de desplazamientos nanométricos utilizando microscopía interferométrica, que permite obtener el desplazamiento de un cristal piezo eléctrico en función del voltaje aplicado con resoluciones del orden de los nanómetros, encontrando la curva de histéresis del tranductor eléctrico para conocer su comportamiento. En los capítulos III, se describe el sistema informático MATVIS utilizado para la adquisición de los patrones de interferencia obtenidos en las pruebas experimentales. En los capítulos IV, se realiza el planteamiento teórico necesario para calibración del paso de desplazamiento, condición necesaria para el buen funcionamiento del microscopio interferométrico. Realizando este planteamiento se procede a la adquisición de imágenes, utilizando un sistema de control digital de desplazamientos y un software para la adquisición de imágenes, logrando la obtención de las franjas de interferencia. Luego se hace un análisis de la información de las franjas inteferométricas, explicando las condiciones y los comportamientos de cada una de las medidas experimentales que hacen parte de esta implementación. Posteriormente, se hace el análisis de los valores que arroja el sistema para realizar la codificación de la información por medio de detección de máximos, para encontrar la cantidad de desplazamientos que ejecuta el cristal piezo eléctrico Por último, se exponen los resultados de las pruebas efectuadas para mostrar el comportamiento del cristal piezo eléctrico al ser sometido a variaciones de voltaje en forma creciente y decreciente hasta determinar la caracterización del cristal Piezo Eléctrico Jena Ref. 0693.