Publicación: CARACTERIZACIÓN DE SISTEMAS DE DESPLAZAMIENTO NANOMÉTRICOS CON MICROSCOPÍA INTERFEROMÉTRICA
| dc.creator | Plata, Arturo | |
| dc.creator | Díaz Sánchez, Martha Yolanda | |
| dc.date | 2010-12-10 | |
| dc.date.accessioned | 2022-03-14T20:21:46Z | |
| dc.date.available | 2022-03-14T20:21:46Z | |
| dc.description | RESUMEN En este trabajo se determina el desplazamiento de un cristal piezo-eléctrico con resoluciones del orden de los nanómetros en función del voltaje aplicado, hasta encontrar la curva de histéresis del tranductor eléctrico para conocer su comportamiento y determinar la caracterización del cristal Piezo-Eléctrico Jena Ref. 0693. Se describe el montaje óptico utilizado en la parte experimental y el procedimiento para la calibración del paso de desplazamiento del cristal piezo-eléctrico. El procedimiento de calibración, es una condición necesaria para conocer desplazamientos de gran exactitud. Luego se hace la adquisición de imágenes utilizando un sistema de control digital de desplazamientos y un software para la captura, procesamiento y visualización de las imágenes, logrando obtener las franjas de interferencia. Posteriormente, se hace el análisis de los valores que arroja el sistema, explicando las condiciones y los comportamientos de cada una de las medidas experimentales. Se hace la codificación de la información utilizando Matlab y por medio de la detección de máximos, se logra encontrar la cantidad de desplazamientos que ejecuta el cristal piezo-eléctrico cuando sufre deformaciones al ser aplicado diferentes variaciones de voltaje. Por último, se exponen los resultados de las pruebas efectuadas para mostrar el comportamiento del transductor eléctrico al ser sometido a variaciones de voltaje en forma creciente y decreciente hasta determinar la caracterización del cristal Piezo-Eléctrico Jena Ref. 0693.PALABRAS CLAVE: Interferometría, Interferómetro Mirau, Interferograma, Cristal Piezo-eléctrico ABSTRACT This document determines the displacement of a piezoelectric crystal with nanometric resolutions in function of applied voltage, until find the hysteresis curve of the electric tranductor to know its behavior y the characterization of the Piezo-electric crystal is determined Jena Ref. 0693.It describes the optic device used for the trial process and the procedure for the flow calibration of the piezo-electric crystal. The calibration procedure is a necessary in order to know displacement whit accurate success. Then make the images acquisition using a displacement digital control system and a software for the capture, processing and visualization of the images, obtaining the interference stripes. Latelly, the analysis of the values from the system is made to explain the conditions and behaviours of each one of the trials measures. The codification of the information is made using Matlab and the quantity of displacements is found through maximus that the crystal executes when suffers deformations when voltage variations are applied to it.Finally, the results of the trials were developed to show the behavior of the crystal when it is submitted to voltage variations in increasing and decreasing forms until the characterization of the Piezoelectric crystal is determined Jena Ref. 0693.KEYWORDS: Interferometry, Mirau Interferometer, Interferogram, Piezo-electric glass | es-ES |
| dc.format | application/pdf | |
| dc.identifier | https://revistas.uis.edu.co/index.php/revistagti/article/view/1229 | |
| dc.identifier.uri | https://noesis.uis.edu.co/handle/20.500.14071/6792 | |
| dc.language | spa | |
| dc.publisher | Universidad Industrial de Santander | es-ES |
| dc.relation | https://revistas.uis.edu.co/index.php/revistagti/article/view/1229/1638 | |
| dc.rights.accessrights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
| dc.rights.coar | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |
| dc.rights.creativecommons | Atribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Internacional (CC BY-NC-ND 4.0) | |
| dc.rights.license | Attribution-NonCommercial 4.0 International (CC BY-NC 4.0) | |
| dc.source | Revista GTI; Vol. 7 Núm. 17 (2008): Revista GTI; 48 - 55 | es-ES |
| dc.source | Revista GTI; Vol. 7 No. 17 (2008): Revista GTI; 48 - 55 | en-US |
| dc.source | REVISTA GTI; v. 7 n. 17 (2008): Revista GTI; 48 - 55 | pt-BR |
| dc.source | 2027-8330 | |
| dc.source | 1657-8236 | |
| dc.title | CARACTERIZACIÓN DE SISTEMAS DE DESPLAZAMIENTO NANOMÉTRICOS CON MICROSCOPÍA INTERFEROMÉTRICA | es-ES |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/article | |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | |
| dspace.entity.type | Publication |