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Introduzca la siguiente información para solicitar una copia del siguiente ítem: Sintesis y caracterizacion estructural por difraccion de rayos-x del material solido fe2-2xmn2xge se4 con composiciones x=0.5, 0.6 y 0.7 perteneciente a la familia de compuestos semiconductores del tipo 112 iv v14

Solicitando el siguiente fichero: Nota de proyecto.pdf