Maestría en Ingeniería Electrónica

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Browsing Maestría en Ingeniería Electrónica by browse.metadata.evaluator "Rueda Chacón, Hoover Fabián"

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    Algoritmo de mejora de la calibración óptica para la implementación de un sistema de imágenes espectrales compresivas diseñado
    (Universidad Industrial de Santander, 2025-05-14) Urrea Vecino, Sergio Andrés; Argüello Fuentes, Henry; García Arenas, Hans Yecid; Pertuz Arroyo, Said David; Rueda Chacón, Hoover Fabián
    Las imágenes espectrales tienen diversas aplicaciones que superan las capacidades de las imágenes RGB, como los controles de calidad en la industria alimentaria, la detección de sustancias y la agricultura de precisión. Los métodos tradicionales de obtención de imágenes espectrales requieren una gran cantidad de mediciones para capturar una imagen espectral. Por otro lado, las imágenes espectrales compresivas pretenden reducir las mediciones necesarias mediante técnicas de detección compresiva. Trabajos recientes han demostrado una mejora del rendimiento de la reconstrucción de imágenes espectrales mediante el diseño del elemento de codificación. Los algoritmos se utilizan habitualmente para la reconstrucción en enfoques basados en modelos para superar la limitación de los datos. Sin embargo, la matriz de calibración del sistema implementado no coincide perfectamente con las matrices de detección diseñadas debido a las no idealidades de construcción. Para reducir esta brecha, este proyecto de investigación se centra en mejorar las mediciones del sistema de imágenes espectrales diseñado basándose en la reducción de las diferencias entre el sistema diseñado y el implementado para minimizar la disparidad entre los resultados de simulación e implementación.
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    Sistema optoelectrónico de infrarrojo cercano para la estimación de porcentaje de carbono orgánico en suelos
    (Universidad Industrial de Santander, 2022-06-28) Gómez Toloza, Pablo Andrés; Argüello Fuentes, Henry; García Arenas, Hans Yecid; Rueda Chacón, Hoover Fabián; Rodríguez Ferreira, Julián Gustavo
    En el sector agrı́cola, controlar y monitorear las propiedades fı́sico-quı́micas del suelo es de vital importancia ya que permite optimizar los cultivos. Si bien existen una amplia gama de propiedades fı́sico-quı́micas del suelo, el porcentaje de carbono orgánico (COS), destaca ya que una correcta caracterización de los niveles de COS permite mejorar la productividad de los cultivos. Tradicionalmente, se han utilizado los métodos quı́micos para calcular el porcentaje de COS con alta precisión, pero con costos de análisis elevados y una respuesta lenta. En consecuencia, la espectroscopı́a de infrarrojo cercano (NIR) ha demostrado ser una herramienta útil para estimar caracterı́sticas intrı́nsecas de muestras de suelo como el COS, a partir de información espectral adquirida utilizando sistemas optoelectrónicos. Sin embargo, para procesar estas firmas espectrales, se han implementado algoritmos computacionales que, a través de una arquitectura computacionalmente compleja y un gran conjunto de datos de firmas espectrales en el NIR estiman el porcentaje de COS. Por lo tanto, en este trabajo propone un sistema NIR optoelectrónico para la estimación del porcentaje de COS, basado en técnicas de procesamiento aplicadas en escenarios con pocas firmas espectrales de muestras de suelos colombianas.