Conductivimetro de corriente alterna basado en la técnica de van der pauw para caracterizar solidos semiconductores
dc.contributor.advisor | Miranda Mercado, David Alejandro | |
dc.contributor.advisor | Barrero Pérez, Jaime Guillermo | |
dc.contributor.author | Aguilera Ortiz, Oscar Adolfo | |
dc.contributor.author | Bayona Vergara, Oscar Javier | |
dc.date.accessioned | 2024-03-03T16:33:32Z | |
dc.date.available | 2007 | |
dc.date.available | 2024-03-03T16:33:32Z | |
dc.date.created | 2007 | |
dc.date.issued | 2007 | |
dc.description.abstract | Este trabajo describe el diseño y la implementación de un equipo para medir la conductividad eléctrica en varias frecuencias para sólidos semiconductores basado en la técnica de Van der Pauw. El equipo diseñado está constituido por los siguientes bloques funcionales: una fuente de corriente Howland, que proporciona la corriente de excitación del sólido; un sistema de conmutación, para la implementación de la técnica de Van der Pauw; un sensor de tensión, para medir la respuesta a la excitación por la corriente; un sensor de corriente, para medir la corriente que se inyecta al sólido; un convertidor RMS, para encontrar el valor eficaz de las señales de tensión y de corriente; un detector de fase, que permite hallar la parte real de impedancia eléctrica medida; y un sistema de control para el procesamiento digital de las señales. La metodología empleada para el desarrollo del dispositivo implementado se describe a continuación: primero, se realizó un análisis teórico detallado de la fuente de corriente Howland, partes esencial del dispositivo, y se determinaron unos criterios de diseño para la misma. Segundo, se elaboró un diseño preeliminar de todas las etapas que conforman el equipo, tercero, se realizó su respectiva simulación y análisis, cuarto, se realizó el ajuste al diseño preeliminar, quinto, se implementación la primera versión del dispositivo final para validar el diseño, sexto, se rediseñaron las topologías que no funcionaron de la manera esperada. Por último se implementó la segunda versión del dispositivo a la cual se le hicieron pruebas y ajustes. | |
dc.description.abstractenglish | It is presented the development of a device to measure the electrical conductivity of semiconductor through the Van der Pauw technique. A current sine wave, of different frequencies, was used to excite the sample, and two RMS devices were used to measurement the excitation current and the voltage response. Additionally, a phase detector was implemented to measure the real part of electrical resistivity. The functional blocks of the device are the following: a Howland current source, that provides the excitation current; a multiplexing system to implement the Van der Pauw technique; a voltage sensor to measure the voltage response of the sample; a sensor for measuring the current injected to solid; a RMS converter to sense the effective value of tension and current signals; a phase-sensitive detector to measure the real part of electrical resistivity; and a system to processing digital signals. A methodology of adaptive technology was employed using the following sequence: first, a rigorous theoretical analysis of Howland current source was realized, and the design criteria were obtained. Second, the different topologies of devices were simulated and analyzed, and an initial design was proposed. Third, the initial design was adjusted and redesigned. Fourth, the first device was implemented and tested. Fifth, the first device implemented was adjusted and redesigned. Sixth, a second device was implemented based on redesign of first device. Finally, the second device was adjusted and tested. ⁄ | |
dc.description.degreelevel | Pregrado | |
dc.description.degreename | Ingeniero Electrónico | |
dc.format.mimetype | application/pdf | |
dc.identifier.instname | Universidad Industrial de Santander | |
dc.identifier.reponame | Universidad Industrial de Santander | |
dc.identifier.repourl | https://noesis.uis.edu.co | |
dc.identifier.uri | https://noesis.uis.edu.co/handle/20.500.14071/19821 | |
dc.language.iso | spa | |
dc.publisher | Universidad Industrial de Santander | |
dc.publisher.faculty | Facultad de Ingenierías Fisicomecánicas | |
dc.publisher.program | Ingeniería Electrónica | |
dc.publisher.school | Escuela de Ingenierías Eléctrica, Electrónica y Telecomunicaciones | |
dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ | |
dc.rights.accessrights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
dc.rights.creativecommons | Atribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Internacional (CC BY-NC-ND 4.0) | |
dc.rights.license | Attribution-NonCommercial 4.0 International (CC BY-NC 4.0) | |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0 | |
dc.subject | Conductividad eléctrica | |
dc.subject | Método de Van der Pauw | |
dc.subject | Fuente de corriente Howland | |
dc.subject | Espectroscopia de impedancia eléctrica | |
dc.subject | Detector sincrónico de fase | |
dc.subject | convertidor RMS a DC. | |
dc.subject.keyword | Electrical conductivity | |
dc.subject.keyword | Van der Pauw method | |
dc.subject.keyword | Howland current source | |
dc.subject.keyword | Electrical impedance spectroscopy | |
dc.subject.keyword | Synchronous phase detector | |
dc.subject.keyword | RMS to DC converter. | |
dc.title | Conductivimetro de corriente alterna basado en la técnica de van der pauw para caracterizar solidos semiconductores | |
dc.title.english | Conductivimeter of altern current based on the technique of van der pauw to characterize solid semiconductors⁄ | |
dc.type.coar | http://purl.org/coar/version/c_b1a7d7d4d402bcce | |
dc.type.hasversion | http://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f | |
dc.type.local | Tesis/Trabajo de grado - Monografía - Pregrado |