Conductivimetro de corriente alterna basado en la técnica de van der pauw para caracterizar solidos semiconductores

dc.contributor.advisorMiranda Mercado, David Alejandro
dc.contributor.advisorBarrero Pérez, Jaime Guillermo
dc.contributor.authorAguilera Ortiz, Oscar Adolfo
dc.contributor.authorBayona Vergara, Oscar Javier
dc.date.accessioned2024-03-03T16:33:32Z
dc.date.available2007
dc.date.available2024-03-03T16:33:32Z
dc.date.created2007
dc.date.issued2007
dc.description.abstractEste trabajo describe el diseño y la implementación de un equipo para medir la conductividad eléctrica en varias frecuencias para sólidos semiconductores basado en la técnica de Van der Pauw. El equipo diseñado está constituido por los siguientes bloques funcionales: una fuente de corriente Howland, que proporciona la corriente de excitación del sólido; un sistema de conmutación, para la implementación de la técnica de Van der Pauw; un sensor de tensión, para medir la respuesta a la excitación por la corriente; un sensor de corriente, para medir la corriente que se inyecta al sólido; un convertidor RMS, para encontrar el valor eficaz de las señales de tensión y de corriente; un detector de fase, que permite hallar la parte real de impedancia eléctrica medida; y un sistema de control para el procesamiento digital de las señales. La metodología empleada para el desarrollo del dispositivo implementado se describe a continuación: primero, se realizó un análisis teórico detallado de la fuente de corriente Howland, partes esencial del dispositivo, y se determinaron unos criterios de diseño para la misma. Segundo, se elaboró un diseño preeliminar de todas las etapas que conforman el equipo, tercero, se realizó su respectiva simulación y análisis, cuarto, se realizó el ajuste al diseño preeliminar, quinto, se implementación la primera versión del dispositivo final para validar el diseño, sexto, se rediseñaron las topologías que no funcionaron de la manera esperada. Por último se implementó la segunda versión del dispositivo a la cual se le hicieron pruebas y ajustes.
dc.description.abstractenglishIt is presented the development of a device to measure the electrical conductivity of semiconductor through the Van der Pauw technique. A current sine wave, of different frequencies, was used to excite the sample, and two RMS devices were used to measurement the excitation current and the voltage response. Additionally, a phase detector was implemented to measure the real part of electrical resistivity. The functional blocks of the device are the following: a Howland current source, that provides the excitation current; a multiplexing system to implement the Van der Pauw technique; a voltage sensor to measure the voltage response of the sample; a sensor for measuring the current injected to solid; a RMS converter to sense the effective value of tension and current signals; a phase-sensitive detector to measure the real part of electrical resistivity; and a system to processing digital signals. A methodology of adaptive technology was employed using the following sequence: first, a rigorous theoretical analysis of Howland current source was realized, and the design criteria were obtained. Second, the different topologies of devices were simulated and analyzed, and an initial design was proposed. Third, the initial design was adjusted and redesigned. Fourth, the first device was implemented and tested. Fifth, the first device implemented was adjusted and redesigned. Sixth, a second device was implemented based on redesign of first device. Finally, the second device was adjusted and tested. ⁄
dc.description.degreelevelPregrado
dc.description.degreenameIngeniero Electrónico
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.identifier.instnameUniversidad Industrial de Santander
dc.identifier.reponameUniversidad Industrial de Santander
dc.identifier.repourlhttps://noesis.uis.edu.co
dc.identifier.urihttps://noesis.uis.edu.co/handle/20.500.14071/19821
dc.language.isospa
dc.publisherUniversidad Industrial de Santander
dc.publisher.facultyFacultad de Ingenierías Fisicomecánicas
dc.publisher.programIngeniería Electrónica
dc.publisher.schoolEscuela de Ingenierías Eléctrica, Electrónica y Telecomunicaciones
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.rights.accessrightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.creativecommonsAtribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Internacional (CC BY-NC-ND 4.0)
dc.rights.licenseAttribution-NonCommercial 4.0 International (CC BY-NC 4.0)
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0
dc.subjectConductividad eléctrica
dc.subjectMétodo de Van der Pauw
dc.subjectFuente de corriente Howland
dc.subjectEspectroscopia de impedancia eléctrica
dc.subjectDetector sincrónico de fase
dc.subjectconvertidor RMS a DC.
dc.subject.keywordElectrical conductivity
dc.subject.keywordVan der Pauw method
dc.subject.keywordHowland current source
dc.subject.keywordElectrical impedance spectroscopy
dc.subject.keywordSynchronous phase detector
dc.subject.keywordRMS to DC converter.
dc.titleConductivimetro de corriente alterna basado en la técnica de van der pauw para caracterizar solidos semiconductores
dc.title.englishConductivimeter of altern current based on the technique of van der pauw to characterize solid semiconductors⁄
dc.type.coarhttp://purl.org/coar/version/c_b1a7d7d4d402bcce
dc.type.hasversionhttp://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f
dc.type.localTesis/Trabajo de grado - Monografía - Pregrado
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