Diseño de una herramienta de software para determinar constantes ópticas en películas delgadas semiconductoras no homogéneas.

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dc.contributor.advisorBotero Londoño, Monica Andrea
dc.contributor.advisorSepulveda Sepulveda, Franklin Alexander
dc.contributor.authorAfricano Mejía, Erik Alexander
dc.contributor.authorTorres Celis, Deisy Yesenia
dc.date.accessioned2024-03-04T00:43:11Z
dc.date.available2020
dc.date.available2024-03-04T00:43:11Z
dc.date.created2020
dc.date.issued2020
dc.description.abstractMediante el estudio de las propiedades ópticas es posible conocer si los materiales semiconductores usados en la síntesis de las películas son adecuados para usarse en celdas solares. En este proyecto se realizó el diseño de una herramienta de software que sirve como apoyo a entidades que se dedican a la síntesis de películas delgadas de materiales semiconductores, específicamente los empleados como capa absorbente en celdas solares. El desarrollo de la herramienta se basó en los métodos propuestos por Swanepoel en 1983 y 1984, los cuales permiten determinar las constantes ópticas de los semiconductores homogéneos1 y no homogéneos2 , es decir, determinan índice de refracción, coeficiente de absorción, gap y la variación del espesor. Esta información se evalúa a partir del análisis de las curvas de transmitancia espectral.
dc.description.abstractenglishBy studying the optical properties, it is possible to know if the semiconductor materials used in the synthesis of the films are suitable for each of the layers of the solar cell. In this bachelor project the design of a software tool was carried out to serve as support for entities dedicated to the synthesis of thin films of semiconductor materials, specifically those used as an absorbing layer in solar cells. The development of the tool was based on the methods proposed by Swanepoel in 1983 and 1984, which allowe determining the optical constants of homogeneous3 and non-homogeneous4 semiconductors, that is, determining, refractive index, absorption coefficient, gap and variation of the thickness. This information is evaluated from the analysis of spectral transmittance curves.
dc.description.degreelevelPregrado
dc.description.degreenameIngeniero Electrónico
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.identifier.instnameUniversidad Industrial de Santander
dc.identifier.reponameUniversidad Industrial de Santander
dc.identifier.repourlhttps://noesis.uis.edu.co
dc.identifier.urihttps://noesis.uis.edu.co/handle/20.500.14071/40072
dc.language.isospa
dc.publisherUniversidad Industrial de Santander
dc.publisher.facultyFacultad de Ingenierías Fisicomecánicas
dc.publisher.programIngeniería Electrónica
dc.publisher.schoolEscuela de Ingenierías Eléctrica, Electrónica y Telecomunicaciones
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.rights.accessrightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.creativecommonsAtribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Internacional (CC BY-NC-ND 4.0)
dc.rights.licenseAttribution-NonCommercial 4.0 International (CC BY-NC 4.0)
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0
dc.subjectSoftware
dc.subjectmateriales semiconductores
dc.subjectceldas solares
dc.subjectpelícula delgada
dc.subjectconstantes ópticas.
dc.subject.keywordSoftware
dc.subject.keywordsemiconductor materials
dc.subject.keywordsolar cells
dc.subject.keywordthin film
dc.subject.keywordoptical constants.
dc.titleDiseño de una herramienta de software para determinar constantes ópticas en películas delgadas semiconductoras no homogéneas.
dc.title.englishDesign of a software tool to determine optical constants in nonhomogeneous semiconductor thin films.*
dc.type.coarhttp://purl.org/coar/version/c_b1a7d7d4d402bcce
dc.type.hasversionhttp://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f
dc.type.localTesis/Trabajo de grado - Monografía - Pregrado
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Ingeniería Electrónica