Diseño de un sistema para medir la fotoconductividad en películas delgadas semiconductoras

Abstract
Debido a la continua búsqueda de nuevas tecnologías en energías renovables, ha sido de gran importancia la fabricación de nuevos materiales semiconductores, con la finalidad de mejorar la eficiencia de sistemas ya utilizados para generar energías limpias, teniendo en cuenta la caracterización de las propiedades opto eléctricas de los mismos, por lo tanto, la presente tesis consta de un sistema diseñado para medir la fotoconductividad en películas delgadas semiconductoras por medio de la variación de intensidad lumínica y control de la temperatura del sustrato y complementado con sistema de medición de conductividad que tiene el grupo GISEL, se podrá medir la fotoconductividad en estado estacionario en películas delgadas semiconductoras.
Description
Keywords
Películas delgadas, Materiales semiconductores, Fotoconductividad
Citation