Analisis de la variacion del espesor de objetos de fase por interferometrias de desplazamiento lateral y de barrido con luz policromatica
| dc.contributor.advisor | Plata Gómez, Arturo | |
| dc.contributor.author | Altamar Mercado, Hernando | |
| dc.date.accessioned | 2024-03-03T04:35:03Z | |
| dc.date.available | 2004 | |
| dc.date.available | 2024-03-03T04:35:03Z | |
| dc.date.created | 2004 | |
| dc.date.issued | 2004 | |
| dc.description.abstract | En este trabajo se hace el análisis de la variación del espesor de objetos de fase, mediante las técnicas interferométricas de desplazamiento lateral y de barrido con iluminación policromática transmitida. Se utiliza un sistema óptico compuesto por un microscopio de interferencia PERAVAL interphako Carl-Zeiss al que se le acopla una cámara CCD monocromática controlada mediante un software diseñado para la adquisición de imágenes. El microscopio de interferencia se calibra previamente, tanto en su campo de observación, como en sus mecanismos interferométricos y de desplazamiento lateral, para luego obtener imágenes interferométricas correspondientes a objetos de fase a través de los cuales se hace propagar un haz luminoso. Se implementa el procedimiento interferométrico de barrido para variar el estado de interferencia. Este proceso se efectúa con la rotación, a través del software, de un motor paso a paso con el cual se desplaza una cuña delgada de vidrio. El desplazamiento de la cuña es perpendicular al eje óptico de uno de los brazos de un interferómetro Mach-Zehnder incorporado al microscopio. Se aprovecha la propiedad que se presenta en la intensidad de un interferograma con luz policromática. Esta propiedad está basada en la presencia de un máximo absoluto, 13 bien localizado, de la función envolvente en la función de autocorrelación. La posición del máximo de la función de autocorrelación, se encuentra con un algoritmo de optimización, basado en el método Levenberg-Marquardt. Este proceso se realiza para un arreglo rectangular de puntos ([_x000F_\) de las imágenes de los objetos bajo estudio. La posición del máximo de la función de autocorrelación presenta información de la variación o gradiente de espesor en la dirección del desplazamiento lateral. Finalmente, se presenta un algoritmo para aproximar, por funciones B-spline, el espesor de los objetos a partir del gradiente encontrado anteriormente | |
| dc.description.abstractenglish | In this work becomes the analysis of the variation of the thickness of phase objects, by means of the techniques lateral shearing interferometry and scanning interferometry with transmitted polychromatic light. An optical system made up of a microscope of interference PERAVAL is used Interphako Carl-Zeiss to whom a controlled monochrome camera CCD by means of a software designed for the acquisition of images is reconciled to him. The interference microscope is calibrated previously, as much in its observation field, like in its interferometric mechanisms and of lateral displacement, soon to obtain interferometric images corresponding to phase objects through which a luminous beam propagates. The scanning interferometric procedure is implemented to vary the interference state. This process takes place with the rotation, through software, of a step motor with which a thin glass wedge moves. The displacement of the wedge is perpendicular to the optical axis of one of the arms of a Mach-Zehnder interferometer incorporated to the microscope. We take advantage of the property that appears in the intensity of interferograma with polychromatic light. This property is based on the presence of an absolute maximum, 15 located well, of the envelop function in the autocorrelation function. The position of the maximum of the autocorrelation function is determined with an algorithm of optimization, based on the Levenberg-Marquardt method. This process is made for a rectangular array of points (x, y) of the images of the objects under study. The position of the maximum of the autocorrelation function presents information of the variation or gradient of thickness in the direction of the lateral displacement. Finally, an algorithm appears to approximate, by functions B-spline, the thickness of the objects from the found gradient previously. | |
| dc.description.degreelevel | Maestría | |
| dc.description.degreename | Magíster en Física | |
| dc.format.mimetype | application/pdf | |
| dc.identifier.instname | Universidad Industrial de Santander | |
| dc.identifier.reponame | Universidad Industrial de Santander | |
| dc.identifier.repourl | https://noesis.uis.edu.co | |
| dc.identifier.uri | https://noesis.uis.edu.co/handle/20.500.14071/15998 | |
| dc.language.iso | spa | |
| dc.publisher | Universidad Industrial de Santander | |
| dc.publisher.faculty | Facultad de Ciencias | |
| dc.publisher.program | Maestría en Física | |
| dc.publisher.school | Escuela de Física | |
| dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ | |
| dc.rights.accessrights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
| dc.rights.creativecommons | Atribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Internacional (CC BY-NC-ND 4.0) | |
| dc.rights.license | Attribution-NonCommercial 4.0 International (CC BY-NC 4.0) | |
| dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0 | |
| dc.title | Analisis de la variacion del espesor de objetos de fase por interferometrias de desplazamiento lateral y de barrido con luz policromatica | |
| dc.title.english | N/a | |
| dc.type.coar | http://purl.org/coar/version/c_b1a7d7d4d402bcce | |
| dc.type.hasversion | http://purl.org/coar/resource_type/c_bdcc | |
| dc.type.local | Tesis/Trabajo de grado - Monografía - Maestria |