Cálculo de los niveles asociados a una donadora cercana a una interfase de Si/SiO2
dc.contributor.advisor | Beltran Rios, Carlos Leonardo | |
dc.contributor.author | Rodríguez Moreno, Elber | |
dc.date.accessioned | 2024-03-03T17:32:01Z | |
dc.date.available | 2009 | |
dc.date.available | 2024-03-03T17:32:01Z | |
dc.date.created | 2009 | |
dc.date.issued | 2009 | |
dc.description.abstract | En el siguiente trabajo se analizo los niveles de energía asociados a una donadora cerca de una interfase de Si/SiO2. El análisis se ejecuto en el esquema de aproximación de la masa efectiva y los cálculos se realizaron mediante procedimientos numéricos y computacionales para resolver el problema de Schr¨odinger, mediante el principio variacional de Schr¨odinger. En particular se estudio el comportamiento del nivel base en la presencia de un campo eléctrico constante en la dirección perpendicular a la interfase. Este sistema debido a que la interfase se puede modelar mediante un potencial con confinamiento infinito y al aplicar un campo eléctrico se genera un sistema de doble pozo con el potencial de la impureza donadora. Se encontró una dependencia del potencial efectivo con el campo eléctrico aplicado y la distancia entre la interfase de Si/SiO2 y la impureza donadora, haciendo que el pozo de potencial sea menos profundo cuando se aleja la impureza de la interfase y el campo eléctrico aumenta. También se encontró una dependencia de la energía de enlace y el campo eléctrico aplicado, como de la distancia entre la impureza donadora y la interfase, haciendo que estos niveles de energía suban a medida que los valores de campo y distancia aumentan. | |
dc.description.abstractenglish | In this work, we analyze the energy levels associated with a donor near a Si/SiO2 interface. The analysis was run in the scheme of the effective mass approximation and the calculations were performed using numerical and computational procedures to solve the problem of Schr¨odinger, using the Schr¨odinger variational principle. In particular, study the behavior of the base level in the presence of a constant electric field in the direction perpendicular to the interface. This system because the interface can be modeled by an infinite confinement potential and applying an electric field generated a double well potential with the donor impurity. We found a dependence of effective potential with the applied electric field and the distance between the Si/SiO2 interface and impurity donor, making the potential well is shallower. We also found a dependence of the binding energy and the applied electric field, as well as the distance between the donor impurity and interface, making these energy levels rise. | |
dc.description.degreelevel | Pregrado | |
dc.description.degreename | Físico | |
dc.format.mimetype | application/pdf | |
dc.identifier.instname | Universidad Industrial de Santander | |
dc.identifier.reponame | Universidad Industrial de Santander | |
dc.identifier.repourl | https://noesis.uis.edu.co | |
dc.identifier.uri | https://noesis.uis.edu.co/handle/20.500.14071/22264 | |
dc.language.iso | spa | |
dc.publisher | Universidad Industrial de Santander | |
dc.publisher.faculty | Facultad de Ciencias | |
dc.publisher.program | Física | |
dc.publisher.school | Escuela de Física | |
dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ | |
dc.rights.accessrights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
dc.rights.creativecommons | Atribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Internacional (CC BY-NC-ND 4.0) | |
dc.rights.license | Attribution-NonCommercial 4.0 International (CC BY-NC 4.0) | |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0 | |
dc.subject | Donadora | |
dc.subject | Espectro energético | |
dc.subject | Energía de enlace | |
dc.subject | Barrido Trigonométrico. | |
dc.subject.keyword | Donor | |
dc.subject.keyword | Energy spectrum | |
dc.subject.keyword | Binding energy | |
dc.subject.keyword | Trigonometric sweep. | |
dc.title | Cálculo de los niveles asociados a una donadora cercana a una interfase de Si/SiO2 | |
dc.title.english | calculations associated with a donor nearest to an interface of Si/SiO2 | |
dc.type.coar | http://purl.org/coar/version/c_b1a7d7d4d402bcce | |
dc.type.hasversion | http://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f | |
dc.type.local | Tesis/Trabajo de grado - Monografía - Pregrado |
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