Calculo e implementación de la función de resolución instrumental en el refinamiento estructural para el cálculo de la microestructura, cuantificación de fases y caracterización estructural por difracción de rayos-x de muestras policristalinas

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dc.contributor.advisorHenao Martinez, Jose Antonio
dc.contributor.authorMacias López, Mario Alberto
dc.date.accessioned2024-03-03T17:42:58Z
dc.date.available2009
dc.date.available2024-03-03T17:42:58Z
dc.date.created2009
dc.date.issued2009
dc.description.abstractUn perfil de difracción está compuesto por una serie de fenómenos que contribuyen en formas particulares a su construcción. Entre estos, es posible diferenciar aquellos que afectan las posiciones de los picos (parámetros de red, grupo espacial), la intensidad (coordenadas fraccionales de los átomos, ocupación, textura, parámetros térmicos), y la forma y ancho (ensanchamiento por microestructura e instrumento). Este último efecto representa lo que se conoce como análisis del perfil de línea, el cual involucra la deconvolución de ambos fenómenos en busca de obtener información acerca de los tamaños y microtensiones cristalinas. Realizar una caracterización estructural y microestructural por el método de refinamiento de estructuras de Rietveld, involucra conocer todas las contribuciones al perfil, entre ellas, la Función de resolución Instrumental que describe el ensanchamiento ocasionado por la geometría óptica del equipo usado. Las principales aberraciones encontradas en cálculos de la función instrumental están asociadas con el amplio rango de parámetros instrumentales que pueden ser variados en la configuración de un difractómetro: radio del goniómetro, tamaño de la fuente de rayos-x, slit de recepción, uso de sollers slits de haz incidente y/o difractado y uso de Monocromador, entre otros. Por estas razones, efectuar un análisis de un material usando difracción de rayos-x de muestras policristalinas, es un procedimiento complejo que involucra conocimientos profundos, tanto a nivel teórico como experimental, de todos los factores contenidos en un perfil de polvo, de manera que sea posible extraer la gran cantidad de información importante para el amplio rango de campos, a nivel tecnológico y de investigación, que utilizan esta técnica como parte fundamental en sus procesos.
dc.description.abstractenglishA diffraction profile consists on a series of phenomena that contribute in particular ways to its construction. Among these, is possible to differentiate those that affect the position of the peaks (lattice parameters, space group), intensity (atomic fractional coordinates, occupation, texture, thermal parameters), and the shape and width (microstructure and instrumental broadening). This last effect is known as line-profile analysis, which involves the deconvolution of both phenomena to obtain crystal size and microstrain information. To perform structural and microstructural characterization by the Rietveld method, involves to know all contributions to the profile, including the instrumental resolution function that describes the broadening caused by the optical geometry of the diffractometer. The main difficulties encountered in numerical calculations of the instrumental function are associated with the wide range of instrumental parameters: goniometer, size of X-ray source, sample, receiving slit, using (or not using) Sollers slits in incident and/or diffracted beam, using (or not using) monochromator, etc. For these reasons, the analysis of a material using x-ray diffraction of polycrystalline samples is a complex procedure that involves profound knowledge, both theoretical and experimental, of all profile factors, thus is possible to extract important information to the broad range of fields, at technologic and investigative level that use this technique as a fundamental part in their process
dc.description.degreelevelMaestría
dc.description.degreenameMagíster en Química
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.identifier.instnameUniversidad Industrial de Santander
dc.identifier.reponameUniversidad Industrial de Santander
dc.identifier.repourlhttps://noesis.uis.edu.co
dc.identifier.urihttps://noesis.uis.edu.co/handle/20.500.14071/23165
dc.language.isospa
dc.publisherUniversidad Industrial de Santander
dc.publisher.facultyFacultad de Ciencias
dc.publisher.programMaestría en Química
dc.publisher.schoolEscuela de Química
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.rights.accessrightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.creativecommonsAtribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Internacional (CC BY-NC-ND 4.0)
dc.rights.licenseAttribution-NonCommercial 4.0 International (CC BY-NC 4.0)
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0
dc.subjectDifracción de rayos x
dc.subjectFunción de Resolución Instrumental
dc.subjectAnálisis del perfil de línea.
dc.subject.keywordX-Ray Diffraction
dc.subject.keywordInstrumental Resolution Function
dc.subject.keywordLine-Profile Analysis.
dc.titleCalculo e implementación de la función de resolución instrumental en el refinamiento estructural para el cálculo de la microestructura, cuantificación de fases y caracterización estructural por difracción de rayos-x de muestras policristalinas
dc.title.englishDetermination and implementation of instrumental resolution function in structure refinement for microstructure calculation, fases quantification and structure characterization by xray powder diffraction.
dc.type.coarhttp://purl.org/coar/version/c_b1a7d7d4d402bcce
dc.type.hasversionhttp://purl.org/coar/resource_type/c_bdcc
dc.type.localTesis/Trabajo de grado - Monografía - Maestria
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