Desarrollo e implementación de un sistema de visionica para nanometrologia de materiales

González Diaz, Julián; Gonzalez Rodriguez, Jaime De Jesus

Publicación:
Desarrollo e implementación de un sistema de visionica para nanometrologia de materiales

dc.contributor.advisor	Gomez Plata, Arturo
dc.contributor.advisor	Barrero, Jaime
dc.contributor.author	González Diaz, Julián
dc.contributor.author	Gonzalez Rodriguez, Jaime De Jesus
dc.date.accessioned	2024-03-03T17:34:11Z
dc.date.available	2009
dc.date.available	2024-03-03T17:34:11Z
dc.date.created	2009
dc.date.issued	2009
dc.description.abstract	En este proyecto se muestra el proceso de desarrollo de un sistema conformado tanto por hardware como software para realizar estudios de muestras en materiales y medir distancias y alturas en la superficie del material a escala de nanómetros. La finalidad del proyecto es dar una herramienta a los investigadores para realizar medidas de gran precisión utilizando un microscopio interferométrico tipo Mirau, e implementando algoritmos de detección de máximos y de interferometria dinámica mediante una cámara CMOS ubicada en el microscopio a la vez que las muestras son desplazadas por un actuador piezo-eléctrico controlado mediante el software y la etapa de control electrónico desarrollada para este propósito, dicho software reconstruirá las imágenes adquiridas y creara una imagen topográfica en 3D de la superficie de la muestra sobre la cual se podrán realizar medidas. Se describe la metodología usada desde la recolección de los requisitos de diseño del hardware, y los de software hasta su desarrollo, comunicación de las partes, implementación, y puesta en marcha del sistema completo. Finalmente el sistema se deja abierto a nuevos desarrollos como la conexión de un nuevo actuador piezo-eléctrico a la etapa de control electrónico para realizar perfilometria basada en algoritmos de phase-shifting ya que el sistema fue diseñado para su posterior evolución, y migración hacia varios equipos de computo de aquí, que la comunicación entre sus componentes son por bus de datos USB.
dc.description.abstractenglish	Current project shows the constituted by hardware-software system™s developing process and methodologies used in such process, such system is used to carry out nanometrology studies on samples of materials and do measurements of height on their surfaces with a nanometric scale. The goal of this project is to afford a tool to researchers which helps to achieve well accurated measurements using a Mirau interferometric microscope and implementing max detection algorithms and Dynamic Interferometry, with a CMOS camera placed in the microscope as well as material samples are displaced by a piezo-electric cristal ,such displacement is controlled by software and the hardware developed. This software will rebuid the 3D surface using sampled images and the user will be able to get measurements about it. The methodology used is described since design™s requirements collection for software and hardware until its development, communications of its parts, implementation and set up of the whole system. Finally, the system is open to new developments as the connection of a new piezo-electric cristal to the electronic control stage, it will allow execute profilometry measurements based on phase-shifting algorithms, since the system was designed to be evolved and easy migrated to a wide range of computers, it is the reason why USB data bus was chosen for the communication between devices and the computer.
dc.description.degreelevel	Pregrado
dc.description.degreename	Ingeniero de Sistemas
dc.format.mimetype	application/pdf
dc.identifier.instname	Universidad Industrial de Santander
dc.identifier.reponame	Universidad Industrial de Santander
dc.identifier.repourl	https://noesis.uis.edu.co
dc.identifier.uri	https://noesis.uis.edu.co/handle/20.500.14071/22517
dc.language.iso	spa
dc.publisher	Universidad Industrial de Santander
dc.publisher.faculty	Facultad de Ingenierías Fisicomecánicas
dc.publisher.program	Ingeniería de Sistemas
dc.publisher.school	Escuela de Ingeniería de Sistemas e Informática
dc.rights	http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
dc.rights.accessrights	info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.creativecommons	Atribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Internacional (CC BY-NC-ND 4.0)
dc.rights.license	Attribution-NonCommercial 4.0 International (CC BY-NC 4.0)
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0
dc.subject	Nano metrología
dc.subject	Interferómetro
dc.subject	Mirau
dc.subject	Visiónica
dc.subject	Piezo-eléctrico
dc.subject	Detección de Máximos
dc.subject	adquisición de imágenes
dc.subject	USB.
dc.subject.keyword	Nanometrology
dc.subject.keyword	Interferometry
dc.subject.keyword	Mirau
dc.subject.keyword	Visionic
dc.subject.keyword	Piezo-electric
dc.subject.keyword	max detection
dc.subject.keyword	image sampling
dc.subject.keyword	USB.
dc.title	Desarrollo e implementación de un sistema de visionica para nanometrologia de materiales
dc.title.english	Developing and implementation of a visionic system applied to nanometrology on materials.
dc.type.coar	http://purl.org/coar/version/c_b1a7d7d4d402bcce
dc.type.hasversion	http://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f
dc.type.local	Tesis/Trabajo de grado - Monografía - Pregrado
dspace.entity.type	Publication