Calculo e implementación de la función de resolución instrumental en el refinamiento estructural para el cálculo de la microestructura, cuantificación de fases y caracterización estructural por difracción de rayos-x de muestras policristalinas
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Date
2009
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Publisher
Universidad Industrial de Santander
Abstract
Un perfil de difracción está compuesto por una serie de fenómenos que contribuyen en formas particulares a su construcción. Entre estos, es posible diferenciar aquellos que afectan las posiciones de los picos (parámetros de red, grupo espacial), la intensidad (coordenadas fraccionales de los átomos, ocupación, textura, parámetros térmicos), y la forma y ancho (ensanchamiento por microestructura e instrumento). Este último efecto representa lo que se conoce como análisis del perfil de línea, el cual involucra la deconvolución de ambos fenómenos en busca de obtener información acerca de los tamaños y microtensiones cristalinas. Realizar una caracterización estructural y microestructural por el método de refinamiento de estructuras de Rietveld, involucra conocer todas las contribuciones al perfil, entre ellas, la Función de resolución Instrumental que describe el ensanchamiento ocasionado por la geometría óptica del equipo usado. Las principales aberraciones encontradas en cálculos de la función instrumental están asociadas con el amplio rango de parámetros instrumentales que pueden ser variados en la configuración de un difractómetro: radio del goniómetro, tamaño de la fuente de rayos-x, slit de recepción, uso de sollers slits de haz incidente y/o difractado y uso de Monocromador, entre otros. Por estas razones, efectuar un análisis de un material usando difracción de rayos-x de muestras policristalinas, es un procedimiento complejo que involucra conocimientos profundos, tanto a nivel teórico como experimental, de todos los factores contenidos en un perfil de polvo, de manera que sea posible extraer la gran cantidad de información importante para el amplio rango de campos, a nivel tecnológico y de investigación, que utilizan esta técnica como parte fundamental en sus procesos.
Description
Keywords
Difracción de rayos x, Función de Resolución Instrumental, Análisis del perfil de línea.