Montaje para medir propiedades eléctricas de obleas semiconductoras a partir de la técnica de van der pauw a temperatura ambiente
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Date
2019
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Universidad Industrial de Santander
Abstract
La caracterización de nuevos materiales, y en particular, el estudio de las propiedades eléctricas de materiales semiconductores, representa un área de investigación muy activa, ya que facilita, entre muchas cosas, la fabricación de dispositivos optoelectrónicos como detectores o células termofotovoltaicas, elaborados a partir de materiales como el Antimoniuro de Galio (GaSb). En la presente pasantía de investigación se actualizó, complementó e implementó un sistema de medición de resistividad eléctrica y movilidad Hall que incluye un montaje y un código, escrito en LabVIEW, que permite configurar y controlar los equipos necesarios para llevar a cabo la caracterización (fuente de corriente AC/DC, sistema de conmutación, nanovoltímetro y picoamperímetro) de láminas semiconductoras a temperatura ambiente, a partir del método de van der Pauw. A fin de verificar el sistema de medición desarrollado, se realizaron pruebas preliminares con un circuito, que permitieron corroborar las medidas posteriormente tomadas con unas láminas semiconductoras de GaSb. Como resultado de la pasantía de investigación se obtuvo que los valores adquiridos para cada medición concuerdan con los valores teóricos esperados, con lo cual se pudo concluir que, tanto el montaje como la configuración del software controlador desarrollado actúan como el sistema apropiado para realizar mediciones de las propiedades eléctricas deseadas.
Description
Keywords
Resistividad Eléctrica, Movilidad Hall, Van Der Pauw, Nanovoltímetro, Picoamperímetro, Keithley, Labview.