Montaje para medir propiedades eléctricas de obleas semiconductoras a partir de la técnica de van der pauw a temperatura ambiente

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dc.contributor.advisorBertel Garay, Linda
dc.contributor.advisorMiranda Mercado, David Alejandro
dc.contributor.authorArenas Navas, Helmer Andres
dc.contributor.authorFlorez Gaitan, Edwin Armando
dc.date.accessioned2023-04-05T12:33:26Z
dc.date.available2023
dc.date.available2023-04-05T12:33:26Z
dc.date.created2019
dc.date.issued2019
dc.description.abstractLa caracterización de nuevos materiales, y en particular, el estudio de las propiedades eléctricas de materiales semiconductores, representa un área de investigación muy activa, ya que facilita, entre muchas cosas, la fabricación de dispositivos optoelectrónicos como detectores o células termofotovoltaicas, elaborados a partir de materiales como el Antimoniuro de Galio (GaSb). En la presente pasantía de investigación se actualizó, complementó e implementó un sistema de medición de resistividad eléctrica y movilidad Hall que incluye un montaje y un código, escrito en LabVIEW, que permite configurar y controlar los equipos necesarios para llevar a cabo la caracterización (fuente de corriente AC/DC, sistema de conmutación, nanovoltímetro y picoamperímetro) de láminas semiconductoras a temperatura ambiente, a partir del método de van der Pauw. A fin de verificar el sistema de medición desarrollado, se realizaron pruebas preliminares con un circuito, que permitieron corroborar las medidas posteriormente tomadas con unas láminas semiconductoras de GaSb. Como resultado de la pasantía de investigación se obtuvo que los valores adquiridos para cada medición concuerdan con los valores teóricos esperados, con lo cual se pudo concluir que, tanto el montaje como la configuración del software controlador desarrollado actúan como el sistema apropiado para realizar mediciones de las propiedades eléctricas deseadas.
dc.description.abstractenglishThe characterization of new materials, in particular, the study of the electrical properties of semiconductor materials, represents a very active research area, since it facilitates, among many things, the manufacture of optoelectronic devices such as detectors or thermophotovoltaic cells, elaborated from materials such as Gallium Antimonide (GaSb). In the present research internship, a system for measuring electrical resistivity and Hall mobility which includes an assembly and a code, written in LabVIEW, that allows to configure and control the equipment necessary to carry out the characterization (AC / DC current source, switching system, nanovoltmeter and picoammeter) of semiconductor sheets at room temperature was updated, complemented and implemented, based on the van der Pauw method. In order to verify the measurement system developed, preliminary tests were carried out with a circuit, which allowed to corroborate the measurements subsequently taken with GaSb semiconductor sheets. As a result of the research internship, it was obtained that the values acquired for each measurement agree with the expected theoretical values, with which it could be concluded that both the assembly and the configuration of the developed controller software act as the appropriate system to perform measurements of the desired electrical properties. *
dc.description.degreelevelPregrado
dc.description.degreenameFísico
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.identifier.instnameUniversidad Industrial de Santander
dc.identifier.reponameUniversidad Industrial de Santander
dc.identifier.repourlhttps://noesis.uis.edu.co
dc.identifier.urihttps://noesis.uis.edu.co/handle/20.500.14071/12995
dc.language.isospa
dc.publisherUniversidad Industrial de Santander
dc.publisher.facultyFacultad de Ciencias
dc.publisher.programFísica
dc.publisher.schoolEscuela de Física
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.accessrightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.coarhttp://purl.org/coar/access_right/c_abf2
dc.rights.creativecommonsAtribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Internacional (CC BY-NC-ND 4.0)
dc.rights.licenseAttribution-NonCommercial 4.0 International (CC BY-NC 4.0)
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
dc.subjectResistividad Eléctrica
dc.subjectMovilidad Hall
dc.subjectVan Der Pauw
dc.subjectNanovoltímetro
dc.subjectPicoamperímetro
dc.subjectKeithley
dc.subjectLabview.
dc.subject.keywordElectrical Resistivity
dc.subject.keywordHall Mobillity
dc.subject.keywordVan Der Pauw
dc.subject.keywordNanovoltmeter
dc.subject.keywordPicoammeter
dc.subject.keywordKeithley
dc.subject.keywordLabview
dc.titleMontaje para medir propiedades eléctricas de obleas semiconductoras a partir de la técnica de van der pauw a temperatura ambiente
dc.title.englishAssembly for measuring electrical properties of semiconductor wafers based on the van der pauw technique at room temperature*
dc.type.coarhttp://purl.org/coar/version/c_b1a7d7d4d402bcce
dc.type.hasversionhttp://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f
dc.type.localTesis/Trabajo de grado - Monografía - Pregrado
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