Design of Analog to Digital Converter (ADC) in a 28 nm CMOS Process

dc.contributor.advisorAmaya Palacio, Jose Alejandro
dc.contributor.advisorHernández Herrera, Hugo Daniel
dc.contributor.authorAngarita Pérez, Jorge Eduardo
dc.contributor.authorOrcasitas García, Nicolás
dc.contributor.evaluatorArdila Ochoa, Javier Ferney
dc.contributor.evaluatorCaballero Barajas, Eduardo
dc.date.accessioned2024-05-22T17:48:05Z
dc.date.available2024-05-22T17:48:05Z
dc.date.created2024-05-22
dc.date.embargoEnd2024-11-22
dc.date.issued2024-05-22
dc.description.abstractEl grupo de investigación Onchip de la Universidad Industrial de Santander (UIS) ha diseñado en los últimos cinco años tres generaciones diferentes de sistemas en chip (SoC) en un proceso CMOS de 180 nm. Recientemente, se ha empezado el desarrollo de una nueva familia de microcontroladores, la cual se implementará en un nodo tecnológico de 28 nm. Esto cambio trae consigo nuevos desafíos en la implementación de los diferentes bloques constitutivos de este sistema, que se ven reflejados en las especificaciones del circuito, en la metodología de diseño, y el conexionado (layout) de los mismos. En este trabajo se trabaja con un conversor analógico a digital (ADC), que como su nombre lo indica, es un componente fundamental para la comunicación entre el mundo exterior (señales analógicas) y el sistema integrado (información digital). Debido a lo anterior, para el diseño de este circuito se priorizaron las métricas asociadas a la velocidad de operación, a la precisión de la información transmitida, la linealidad y al consumo, siendo estas respectivamente la frecuencia de muestreo, la cantidad efectiva de bits (ENOB), no-linealidad integral (INL) y diferencial (DNL), además de la potencia promedio. Finalmente, el diseño propuesto es validado mediante el monitoreo de las especificaciones a través de simulaciones de corners de proceso, voltaje de alimentación y temperatura (PVT), de variaciones estadísticas utilizando el método de Monte Carlo y de efectos parásitos post-layout.
dc.description.abstractenglishThe Onchip research group at the Industrial University of Santander (UIS) has designed three different generations of System-on-Chip (SoC) over the last five years in a 180 nm CMOS process. Recently, the development of a new family of microcontrollers has started, to be implemented in a 28 nm technological node. This change brings along new challenges in implementing the various constituent blocks of this system, which are reflected in the circuit specifications, design methodology, and their layout. This work involves working with an analog-to-digital converter (ADC), which, as its name suggests, is a fundamental component for communication between the outside world (analog signals) and the integrated system (digital information). Due to this, the design of this circuit prioritized metrics associated with operating speed, accuracy of transmitted information, linearity, and consumption, respectively: sampling frequency, effective number of bits (ENOB), integral and differential non-linearity (INL and DNL), as well as average power. Finally, the proposed design is validated by monitoring the specifications through simulations of corner process variations, power supply voltage, and temperature (PVT), statistical alterations usign the Monte Carlo method, and post-layout parasitic effects.
dc.description.degreelevelPregrado
dc.description.degreenameIngeniero Electrónico
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.identifier.instnameUniversidad Industrial de Santander
dc.identifier.reponameUniversidad Industrial de Santander
dc.identifier.repourlhttps://noesis.uis.edu.co
dc.identifier.urihttps://noesis.uis.edu.co/handle/20.500.14071/42567
dc.language.isoeng
dc.publisherUniversidad Industrial de Santander
dc.publisher.facultyFacultad de Ingeníerias Fisicomecánicas
dc.publisher.programIngeniería Electrónica
dc.publisher.schoolEscuela de Ingenierías Eléctrica, Electrónica y Telecomunicaciones
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/embargoedAccess
dc.rights.accessrightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.coarhttp://purl.org/coar/access_right/c_f1cf
dc.rights.creativecommonsAtribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Internacional (CC BY-NC-ND 4.0)
dc.rights.licenseAtribución-NoComercial-SinDerivadas 2.5 Colombia (CC BY-NC-ND 2.5 CO)
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
dc.subjectADC
dc.subjectSAR
dc.subjectENOB
dc.subjectSINAD
dc.subjectConmutación monótona
dc.subject.keywordADC
dc.subject.keywordSAR
dc.subject.keywordENOB
dc.subject.keywordSINAD
dc.subject.keywordMonotonic Switching
dc.titleDesign of Analog to Digital Converter (ADC) in a 28 nm CMOS Process
dc.title.englishDesign of Analog to Digital Converter (ADC) in a 28 nm CMOS Process
dc.type.coarhttp://purl.org/coar/resource_type/c_7a1f
dc.type.hasversionhttp://purl.org/coar/version/c_b1a7d7d4d402bcce
dc.type.localTesis/Trabajo de grado - Monografía - Pregrado
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